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机译:电极间隙为20 nm的基于薄膜的二氧化钒纳米线中的单步金属-绝缘体转变
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, 8-1 Mihogaoka, Osaka 5670047, Japan;
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, 8-1 Mihogaoka, Osaka 5670047, Japan;
Kyushu Univ, Dept Appl Quantum Phys & Nucl Engn, Fukuoka, Fukuoka 8190395, Japan|Kyushu Univ, Ultramicroscopy Res Ctr, Fukuoka, Fukuoka 8190395, Japan;
Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, 8-1 Mihogaoka, Osaka 5670047, Japan;
机译:纳米间隙电极上的电脉冲电压引起的二氧化钒薄膜中的高速金属-绝缘体转变
机译:纳米间隙电极上的电脉冲电压引起的二氧化钒薄膜中的高速金属-绝缘体转变
机译:脉冲激光沉积(PLD)对二氧化钒(VO_2)薄膜(PLD)的氧气流速对金属 - 绝缘体转变(MIT)特性的影响
机译:经历金属-绝缘体相变的二氧化钒薄膜中太赫兹辐射的产生
机译:氢掺杂和二氧化钒中的金属 - 绝缘相变
机译:关联M1二氧化钒的金属-绝缘体跃迁的能量和原子运动
机译:温度场和电场诱导金属 - 绝缘子转变 原子层沉积二氧化钒薄膜
机译:钒氧化物纳米线的介观效应和金属绝缘体转变。