...
首页> 外文期刊>Applied Physics Letters >Hydrocarbon detection via ion implantation in metal-insulator-semiconductor devices
【24h】

Hydrocarbon detection via ion implantation in metal-insulator-semiconductor devices

机译:通过金属-绝缘体-半导体器件中的离子注入进行碳氢化合物检测

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

A method for using metal-insulator-semiconductor (MIS) sensors to detect hydrocarbons is described. In this method, hydrocarbon gases are ionized and focused in an energetic beam onto the surface of a MIS device using an ion gun. This detection scheme is found to be selective to hydrogen-containing compounds, with other species yielding no detectable response. The magnitude of the sensor response is found to be a strong function of the current flux and beam energy. These results suggest that ion implantation in MIS devices may be a useful sensing strategy for detection of various combustible gases. (C) 2004 American Institute of Physics.
机译:描述了一种使用金属-绝缘体-半导体(MIS)传感器检测碳氢化合物的方法。在这种方法中,使用离子枪将碳氢化合物气体电离并以高能束的形式聚焦到MIS装置的表面上。发现该检测方案对含氢化合物具有选择性,其他物种则未产生可检测的响应。发现传感器响应的大小是电流和光束能量的强函数。这些结果表明,MIS设备中的离子注入可能是检测各种可燃气体的有用传感策略。 (C)2004美国物理研究所。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号