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SIMS as a subnanometer probe: A new tool for chemical profile analysis of grafted molecules

机译:SIMS作为亚纳米探针:用于嫁接分子化学概况分析的新工具

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摘要

The complexity of modern engineered surfaces requires the development of very powerful methods to analyze and characterize them. We demonstrate that it is possible to obtain chemical information about the skeleton of organic molecules constituting SAMs grafted on a silicon surface by using a new type of SIMS method. A profile can be achieved by the investigation of the temporal variation of secondary ion intensities that correspond to the fractional parts of the molecule constituting the SAMs. The equivalent ablation rate is less than 0.5 nm/min.
机译:现代工程表面的复杂性要求开发非常强大的方法来分析和表征它们。我们证明,可以通过使用新型SIMS方法获得有关组成嫁接在硅表面上的SAM的有机分子骨架的化学信息。可以通过研究与构成SAM的分子的分数部分相对应的次级离子强度的时间变化来获得轮廓。等效烧蚀速率小于0.5 nm / min。

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