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Soft X-ray Resonant Magnetic Scattering Study Of Magnetization Reversal In Low Dimensional Magnetic Heterostructures

机译：低维磁异质结构中磁化反转的软X射线共振磁散射研究

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Soft X-ray resonant magnetic scattering (SXRMS) has been used to investigate the microscopic magnetization reversal behavior of complex magnetic systems. SXRMS is a unique technique, providing chemical, spatial and magnetic sensitivity, which is not affected by external magnetic fields. The study of two selected thin magnetic heterostructures is presented, amorphous rare-earth transition metal alloys and perpendicular exchange coupled antiferromagnetic/ferromagnetic films. In the first system, the internal structure of magnetic stripe domains on nanometer length scales is obtained by measuring bi-dimensional (2D) scattering images. In the second system, the element specificity is exploited to identify the role of the uncompensated spins in the antiferromagnetic layer on the exchange coupling phenomena. Future trends are also discussed.
机译：软X射线共振磁散射（SXRMS）已用于研究复杂磁系统的微观磁化反转行为。 SXRMS是一种独特的技术，可提供不受外部磁场影响的化学，空间和磁灵敏度。提出了两种选择的薄磁异质结构的研究，非晶态稀土过渡金属合金和垂直交换耦合反铁磁/铁磁膜。在第一个系统中，通过测量二维（2D）散射图像获得纳米级尺度上的磁条域的内部结构。在第二种系统中，利用元素特异性来识别交换耦合现象上反铁磁层中未补偿自旋的作用。还讨论了未来的趋势。

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