• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Applied Surface Science >Depth profiling of taxol-loaded poly(styrene-b-isobutylene-b-styrene) using Ga+ and C-60(+) ion beams
【24h】

Depth profiling of taxol-loaded poly(styrene-b-isobutylene-b-styrene) using Ga+ and C-60(+) ion beams

机译：使用Ga +和C-60（+）离子束对紫杉醇负载的聚（苯乙烯-b-异丁烯-b-苯乙烯）进行深度分析

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

The surface of a triblock copolymer, containing a solid-phase drug, was investigated using 15 keV Ga+ and 20 keV C-60(+) ion beams. Overall, the results illustrate the successful use of a cluster ion beam for greatly enhancing the molecular ion and high-mass fragment ion intensities from the surface and bulk of the polymer system. The use of C-60(+) also established the ability to see through common overlayers like poly(dimethyl siloxane) which was not possible using atomic ion sources. Moreover, the use Of C-60(+) allowed depth profiles to be obtained using primary ion dose densities in excess of 6 x 10(14) C-60(+)/cm(2). Resulting sputter craters possess relatively flat bottoms without the need for sample rotation and reached depths of ca. 2 mu m. AFM results illustrate the more gentile removal of surface species using cluster ions. Specifically, phase contrast and topographic images suggest the relatively high ion doses do not significantly alter the phase distribution or surface topography of the polymer. However, a slight increase in rms roughness was noticed. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：使用15 keV Ga +和20 keV C-60（+）离子束研究了包含固相药物的三嵌段共聚物的表面。总的来说，这些结果说明了簇离子束的成功使用，极大地增强了聚合物系统表面和整体的分子离子和高质量碎片离子强度。 C-60（+）的使用还建立了穿透普通覆盖层（如聚（二甲基硅氧烷））的能力，这是使用原子离子源无法实现的。此外，使用C-60（+）可以使用超过6 x 10（14）C-60（+）/ cm（2）的一次离子剂量密度获得深度轮廓。所形成的溅射坑具有相对平坦的底部，而无需旋转样品并达到约200毫米的深度。 2亩原子力显微镜的结果表明，使用簇离子可以更温和地去除表面物质。具体而言，相衬和形貌图像表明相对高的离子剂量不会显着改变聚合物的相分布或表面形貌。但是，发现均方根粗糙度略有增加。 （c）2006 Elsevier B.V.保留所有权利。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号