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Molecular depth profiling of organic and biological materials

机译：有机和生物材料的分子深度分析

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Atomic depth profiling using secondary ion mass spectrometry, SIMS, is common in the field micro-electronics; however, the generation of molecular information as a function of sample depth is difficult due to the accumulation of damage both on and beneath the sample surface. The introduction of polyatomic ion beams such as SF5 and C-60 have raised the possibility of overcoming this problem as they deposit the majority of their energy in the upper surface of the sample resulting in increased sputter yields but with a complimentary reduction in sub-surface damage accumulation. In this paper we report the depth profile analysis of the bio-polymer polycaprolactone, PCL, using the polyatomic ions Au-3(+) and C-60(+) and the monoatomic Au+. Results are compared to recent analysis of a similar sample using SF5+. C-60(+) depth profiling of cellulose is also demonstrated, an experiment that has been reported as unsuccessful when attempted with SF5+ implications for biological analysis are discussed. (c) 2006 Published by Elsevier B.V.
机译：使用二次离子质谱仪（SIMS）进行原子深度分布分析在微电子领域很常见。然而，由于样品表面上和下方都积累了损伤，因此难以根据样品深度生成分子信息。引入多原子离子束（例如SF5和C-60）提高了解决此问题的可能性，因为它们将大部分能量沉积在样品的上表面中，从而提高了溅射产量，但同时减少了次表面损害累积。在本文中，我们报告了使用多原子离子Au-3（+）和C-60（+）以及单原子Au +对生物聚合物聚己内酯PCL的深度分布进行分析。将结果与使用SF5 +对相似样品的最新分析进行比较。还演示了纤维素的C-60（+）深度分析，并讨论了尝试将SF5 +用于生物学分析的尝试未成功的实验。 （c）2006年由Elsevier B.V.发布

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