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Influence of primary ion species on the secondary cluster ion emission process from SAMs of hexadecanethiol on gold

机译:十六烷硫醇对金的SAM中初级离子种类对次级团簇离子发射过程的影响

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摘要

In order to investigate the secondary cluster ion emission process of organo-metallic compounds under keV ion bombardment, self-assembled monolayers (SAMs) of alkanethiols on gold are ideal model systems. In this experimental study, we focussed on the influence of the primary ion species on the emission processes of gold-alkanethiolate cluster ions from a hexadecanethiol SAM on gold. For this purpose, we carried out time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) measurements using the following primary ion species and acceleration voltages: Ar+, Xe+, SF5+ (10 kV), Bi+, Bi-3(+)(25 kV), Bi-3(2+), Bi-5(2+), Bi-7(2+) (25 kV).
机译:为了研究keV离子轰击下有机金属化合物的次级簇离子发射过程,烷硫醇在金上的自组装单分子层(SAMs)是理想的模型系统。在此实验研究中,我们集中于主要离子种类对十六烷硫醇SAM在金上的链烷硫醇金簇离子的发射过程的影响。为此,我们使用以下主要离子种类和加速电压进行了飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)测量:Ar +,Xe +,SF5 +(10 kV),Bi +,Bi-3(+) (25 kV),Bi-3(2 +),Bi-5(2 +),Bi-7(2+)(25 kV)。

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