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Modeling the dissociation and ionization of a sputtered organic molecule

机译：模拟溅射有机分子的解离和电离

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The evolution of an organic molecule after sputtering from a gold surface has been analyzed by classical molecular dynamics and ab initio calculations to gain insight into the ionization and fragmentation processes occurring in SIMS. The calculated ionization potential (6.2 eV) of the tetraphenylnaphthalene (TPN) molecule has been found to be close to the unimolecular dissociation energy (5.4 eV) of the most favorable reaction channel involving the loss of a phenyl ring. On the other hand, our calculations show that the internal energies of sputtered TPN molecules can be significantly larger than 5-6 eV. Therefore, it appears energetically possible to relax such excited molecules via both fragmentation and ionization.
机译：已经通过经典的分子动力学和从头算的方法分析了从金表面溅射后有机分子的演变，以深入了解SIMS中发生的电离和碎片化过程。已经发现，四苯基萘（TPN）分子的计算电离势（6.2 eV）接近最有利的涉及苯环丢失的反应通道的单分子解离能（5.4 eV）。另一方面，我们的计算表明，溅射的TPN分子的内部能量可能明显大于5-6 eV。因此，似乎有可能通过断裂和电离使这种激发的分子松弛。

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