• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Applied Surface Science >Optical and X-ray characterization of ferroelectric strontium-bismuth-tantalate (SBT) thin films
【24h】

Optical and X-ray characterization of ferroelectric strontium-bismuth-tantalate (SBT) thin films

机译：铁电锶钽酸锶（SBT）薄膜的光学和X射线表征

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD) made layers of strontium-bismuth-tantalate (SBT) were characterized by spectroscopic ellipsometry (SE) using the Adachi model [S. Adachi, Phys. Rev. B 35 (1987) 7454-7463]. The evaluated optical parameters were correlated with the physical and chemical behavior examined by X-ray diffraction (XRD). As a result, it was possible to fit the measured spectra with the Adachi model in a wide range covering the region of the band gap. The Adachi model provides electronic layer parameters like the transition energy Eo and broadening F. Our investigations established a correlation between XRD-determined average grain size and the electronic layer parameters. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.
机译：使用Adachi模型通过椭圆偏振光谱法（SE）对金属有机化学气相沉积（MOCVD）制备的钽酸锶铋铋（SBT）层进行了表征。足立区B 35（1987）7454-7463]。评估的光学参数与通过X射线衍射（XRD）检查的物理和化学行为相关。结果，有可能在覆盖带隙区域的宽范围内将测得的光谱与Adachi模型拟合。 Adachi模型提供了电子层参数，例如跃迁能Eo和展宽F。我们的研究确定了XRD确定的平均晶粒尺寸与电子层参数之间的相关性。 （c）2006 Elsevier B.V.保留所有权利。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号