• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Applied Surface Science >Crystal symmetry breaking in thin square nanosheets of the topological insulator bismuth telluride
【24h】

Crystal symmetry breaking in thin square nanosheets of the topological insulator bismuth telluride

机译：拓扑绝缘体碲化铋薄方形纳米片的晶体对称性破坏

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

For potential use as a topological insulator, thin square-like Bi2Te3 nanosheets, prepared via a facile solution-based method, were subjected to detailed micro-Raman spectral measurements. The results demonstrate remarkable activation of the infrared active A(1u) mode in the Raman spectra despite the forbidden nature of the odd-parity A(1u) mode for bulk Bi2Te3 crystals. Therefore, the results unambiguously prove the crystal symmetry breaking of the thin square-like Bi2Te3 nanosheets. This study illustrates the potential applicability of microRaman spectroscopy as a powerful nanometrology tool for investigating the optical properties of topological insulators.
机译：为了潜在地用作拓扑绝缘体，对通过一种简便的基于溶液的方法制备的方形正方形Bi2Te3纳米薄片进行了详细的微拉曼光谱测量。结果表明，尽管块体Bi2Te3晶体具有奇偶奇偶校验A（1u）模式，但在拉曼光谱中红外激活A（1u）模式却得到了显着激活。因此，结果清楚地证明了薄正方形Bi2Te3纳米片的晶体对称性破坏。这项研究说明了显微拉曼光谱作为一种强大的纳米计量学工具，用于研究拓扑绝缘体的光学特性的潜在适用性。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号