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【24h】

AFID: an automated approach to collecting software faults

机译：AFID：一种收集软件故障的自动化方法

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摘要

We present a new approach for creating repositories of real software faults. We have developed a tool, the Automatic Fault IDentification Tool (AFID), that implements this approach. AFID records both a fault revealing test case and a faulty version of the source code for any crashing faults that the developer discovers and a fault correcting source code change for any crashing faults that the developer corrects. The test cases are a significant contribution, because they enable new research that explores the dynamic behaviors of the software faults. AFID uses an operating system level monitoring mechanism to monitor both the compilation and execution of the application. This technique makes it straightforward for AFID to support a wide range of programming languages and compilers.rnWe present our experience using AFID in a controlled case study and in a real development environment to collect software faults in the internal development of our group's compiler. The case studies collected several real software faults and validated the basic approach. The longer term internal study revealed weaknesses in using the original version of AFID for real development. This experience led to a number of refinements to the tool for use in real software development. We have collected over 20 real software faults in large programs and continue to collect software faults.
机译：我们提出了一种创建实际软件故障存储库的新方法。我们已经开发了一种工具，即自动故障识别工具（AFID），可以实现此方法。 AFID记录开发人员发现的任何崩溃故障的故障揭示测试用例和源代码的错误版本，以及开发人员纠正的任何崩溃故障的故障纠正源代码更改。测试用例是一个重要的贡献，因为它们可以进行新的研究，以探索软件故障的动态行为。 AFID使用操作系统级别的监视机制来监视应用程序的编译和执行。这项技术使AFID可以轻松支持各种编程语言和编译器。rn我们在受控案例研究和实际开发环境中收集AFID的经验，以收集我们组编译器内部开发中的软件错误。案例研究收集了一些实际的软件故障，并验证了基本方法。长期的内部研究表明，使用原始版本的AFID进行实际开发存在缺陷。这种经验导致对用于实际软件开发的工具进行了许多改进。我们已经在大型程序中收集了20多个实际的软件故障，并继续收集软件故障。

著录项

  • 来源
    《Automated software engineering》 |2010年第3期|P.347-372|共26页
  • 作者

    Alex Edwards; Sean Tucker; Brian Demsky;

  • 作者单位

    Computer Science Department, University of California, Los Angeles 90095, CA, USA;

    rnWestern Digital, Michelson Drive, Irvine 92612, CA, USA;

    rnDepartment of Electrical Engineering and Computer Science, University of California, Irvine 92697,CA, USA;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    fault collection;

    机译：故障收集;

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