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【24h】

Röntgenmikroskop macht Fluktuationen sichtbar

机译:X射线显微镜使波动可见

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摘要

Röntgenstrahlen bieten Einsichten in Strukturen, die mit Lichtmikroskopie nicht abgebildet werden können. Mit ihnen kann die Nanostruktur von so unterschiedlichen Objekten untersucht werden wie einzelne Zellen oder magnetische Datenträger. Hochauflösende Bilder sind jedoch nur möglich, wenn sowohl Mikroskop als auch das Untersuchungsobjekt extrem stabil sind. Forscher der TU München und des Paul-Scherrer-Instituts zeigten nun, wie man diese Bedingungen bei gleicher Bildqualität lockern kann.
机译:X射线可洞察无法用光学显微镜成像的结构。它们可以用来检查物体的纳米结构,就像单个细胞或磁性数据载体一样。但是,只有在显微镜和检查对象都非常稳定的情况下,才能获得高分辨率的图像。慕尼黑工业大学和Paul Scherrer研究所的研究人员现在已经展示了如何在相同的图像质量下放松这些条件。

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    《Bulletin SEV/VSE》 |2013年第4期|47-47|共1页
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