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Characterization of the effects of silicon on the formation of goethite

机译:硅对针铁矿形成的影响的表征

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摘要

Goethite samples were synthesised with different sodium silicate concentrations (0,10 -5,10 -4,10 -3and 10-2M) in the initial aqueous solution. X-ray diffraction (XRD), Mossbauer spectrometry, inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) and transmission electron microscopy (TEM) were used to investigate the influence of Si content on the formation and physical characteristics of goethite. Mossbauer spectroscopy and TEM results demonstrate that the particle size changes as the sodium silicate content increases. XRD results (lattice parameters, line width and mean coherence length values) do not show any indication that Si species would substitute for Fe in the goethite structure.
机译:在初始水溶液中合成了具有不同硅酸钠浓度(0,10 -5,10 -4,10 -3和10-2M)的针铁矿样品。利用X射线衍射(XRD),莫斯鲍尔光谱法,电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和透射电子显微镜(TEM)研究了硅含量对针铁矿的形成和物理特性的影响。 Mossbauer光谱和TEM结果表明,随着硅酸钠含量的增加,粒径会发生变化。 XRD结果(晶格参数,线宽和平均相干长度值)没有显示出任何迹象表明Si物种会取代针铁矿结构中的Fe。

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