...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>Croatica Chemica Acta >Diffraction Line Broadening - Nuisance or Lattice-Imperfections Fingerprints
【24h】

Diffraction Line Broadening - Nuisance or Lattice-Imperfections Fingerprints

机译：衍射线展宽-滋扰或晶格缺陷的指纹

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

Diffraction lines are broadened for two reasons: instrumental configuration and physical origins. The latter yields information on materials microstructure. The complete process of line-broadening analysis is discussed, beginning with experimental procedures and a correction for instrumental broadening. In the analysis of the physically broadened line profile, the main emphasis is given to the widely used methods of separation of size and strain broadening: the Warren-Averbach approximation and integral-breadth methods. The integral-breadth methods are collated and their reliability discussed. Close attention is given to an assumed Voigt-function profile shape for both size-broadened and strain-broadened profiles because it is shown that a Voigt function fits satisfactorily the physically broadened line profiles of W and MgO obtained by the Stokes-deconvolution method. The subsequent analyses of broadening are performed by using the Warren-Averbach and »double-Voigt« approaches and results are compared.%Difrakcijske linije su proširene iz dva razloga: konfiguracija instrumenta i fizikalni uzroci. Fizikalno širenje daje informaciju o mikrostrukturi materijala. Cijeli postupak analize širenja linija je razmatran, počevši od eksperimentalnog postupka i korekcije za instrumentalno proširenje. U analizi profila proširenog iz fizikalnih razloga, glavnina razmatranja je posvećena široko korištenim metodama odvajanja efe-kata širenja linija zbog utjecaja veličine domena i deformacije: Warren-Averbach aproksimacija i metode integralne širine. Metode integralne širine su uporedene i razmatrana je njihova pouzdanost. Posebna pažnja je posveaeena a priori Voigt funkciji kao modelu za profile proširene zbog veličine domena i deformacije, jer je pokazano da Voigt funkcija zadovoljavajuće aproksimira fizikalne profile linija od W i MgO, koji su dobiveni Stokesovom metodom dekonvolucije. Potonje analize širenja linija su provedene Warren-Averbachovom i »dvostrukom Voigt« metodama i rezultati su upoređeni.
机译：衍射线变宽的原因有两个：仪器配置和物理起源。后者产生有关材料微观结构的信息。从实验程序和仪器扩展的校正开始，讨论了线扩展分析的完整过程。在分析物理加宽的线轮廓时，主要着重于分离尺寸和应变加宽的广泛使用的方法：Warren-Averbach逼近法和积分宽度法。整理了积分宽度方法并讨论了其可靠性。密切关注假定的Voigt函数轮廓形状（无论是尺寸扩展轮廓还是应变扩展轮廓），因为这表明Voigt函数可以令人满意地拟合通过Stokes反卷积方法获得的W和MgO的物理扩展线轮廓。随后使用Warren-Averbach和“ double-Voigt”方法进行了加宽分析，并对结果进行了比较。 Fizikalno媒体信息。 Cijeli postupak可以分析irez linija je razmatran，počevšiod eksperimentalnog postupka i korekcije za instrumentalnoproširenje。 U Analizi profilaproširenogiz fizikalnih razloga，glavnina razmatranja jeposvećenaširokokorištenimmetodama odvajanja efe-kataširenjalinija zbog utjecajaveličinedomena i的名字：Warren-Averacéneacnene Metodetegrateširinesu uporedene i razmatrana je njihova pouzdanost。 Posebnapažnjaje posveaeena a preprioi Voigt funkciji kao modelu za profileproširenezbogveličinedomena i disformacije，jerje pokazano da Voigt funkcijazadovoljavajućeaproksimira fizikalne profile linija od meskom dovok沃伦·阿韦尔巴乔沃（Porenje Warren-Averbachovom）»波德涅（Darstrukom Voigt）»情景分析。

著录项

  • 来源
    《Croatica Chemica Acta》 |1996年第3期|p.1069-1115|共47页
  • 作者

    Davor Balzar;

  • 作者单位

    X-ray Laboratory, Division of Materials Science and Electronics, Department of Physics, Ruder Boskovic Institute, P.O. Box 1016, 10001 Zagreb, Croatia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 化学;化学工业;化学工业;
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号