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Coherent amplification of X-ray scattering from meso-structures

机译：细观结构中X射线散射的相干放大

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Small-angle X-ray scattering (SAXS) often includes an unwanted background, which increases the required measurement time to resolve the sample structure. This is undesirable in all experiments, and may make measurement of dynamic or radiation-sensitive samples impossible. Here, we demonstrate a new technique, applicable when the scattering signal is background-dominated, which reduces the requisite exposure time. Our method consists of exploiting coherent interference between a sample with a designed strongly scattering `amplifier'. A modified angular correlation function is used to extract the symmetry of the interference term; that is, the scattering arising from the interference between the amplifier and the sample. This enables reconstruction of the sample's symmetry, despite the sample scattering itself being well below the intensity of background scattering. Thus, coherent amplification is used to generate a strong scattering term (well above background), from which sample scattering is inferred. We validate this method using lithographically defined test samples.
机译：小角X射线散射（SAXS）通常包含不需要的背景，这会增加解决样品结构所需的测量时间。这在所有实验中都是不可取的，并且可能使动态或辐射敏感样品的测量变得不可能。在这里，我们演示了一种新技术，该技术适用于散射信号为背景为主的情况，从而减少了所需的曝光时间。我们的方法包括利用设计好的强散射“放大器”利用样本之间的相干干扰。修改后的角度相关函数用于提取干涉项的对称性。也就是说，由于放大器和样本之间的干扰而产生的散射。尽管样本散射本身远低于背景散射的强度，但仍可以重建样本的对称性。因此，相干放大用于生成强散射项（远高于背景），从中可以推断出样本散射。我们使用光刻定义的测试样品来验证此方法。

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