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首页> 外文期刊>PASJ: Publications of the Astronomical Society of Japan >Low/Hard State Spectra of GRO J1655$-$40 Observed with Suzaku
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Low/Hard State Spectra of GRO J1655$-$40 Observed with Suzaku

机译：朱古力观察到的GRO J1655 $-$ 40的低/硬态光谱

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TheGalacticblack-holebinaryGROJ1655$$-$$40,asourceharboringsuperluminaljets,wasobservedwithSuzakuon2005September22-23.Thesourcewasdetectedoverabroadandcontinuousenergyrangeof0.7-300keV,withanintensityof$$sim$$50mCrabat20keV.Atadistanceof3.2kpc,the0.7-300keVluminositywas$$sim$$5.2$$ imes$$10$$^{36}$$ergs$$^{-1}$$($$sim$$0.7%oftheEddingtonluminosityfora6$$M_{odot}$$blackhole).Thesourcewasinatypicallow/hardstate,exhibitingapower-lawshapedcontinuumwithaphotonindexof$$sim$$1.6.Duringtheobservation,thesourceintensitygraduallydecreasedby25%atenergiesabove$$sim$$3keV,andby35%below2keV.This,togetherwiththesoftX-rayspectratakenwiththeX-rayImagingSpectrometer(XIS),suggeststhepresenceofanindependentsoftcomponentthatcanberepresentedbyemissionfromacool($$sim$$0.2keV)disk.ThehardX-rayspectraobtainedwiththeHardX-rayDetectorrevealahigh-energyspectralcutoff,withan$$e$$-foldingenergyof$$sim$$200keV.Theentire0.7-300keVspectrumcannotbereproducedbyasinglethermalComptonizationmodel,evenwhenconsideringreflectioneffects.Instead,thespectrum(exceptthesoftexcess)canbesuccessfullyexplainedbyinvokingtwothermal-Comptonizationcomponentswithdifferent$$y$$-parameters.Incontrasttothehigh/softstatespectraofthisobject,inwhichnarrowironabsorptionlinesaredetectedwithequivalentwidthsof60-100eV,thepresentXISspectrabearnosuchfeaturesbeyondanupper-limitequivalentwidthof23eV.
机译：TheGalacticblack-holebinaryGROJ1655 $$ - $$ 40，asourceharboringsuperluminaljets，wasobservedwithSuzakuon2005September22-23.Thesourcewasdetectedoverabroadandcontinuousenergyrangeof0.7-300keV，withanintensityof $$ SIM $$ 50mCrabat20keV.Atadistanceof3.2kpc，the0.7-300keVluminositywas $$ SIM $$ 5.2 $$的IME $$ 10 $$ ^ {36} $$ ergs $$ ^ {-1} $$（$ 6％$ M_ {odot} $$ blackhole的Eddington发光度的$％sim $$ 0.7％）。该源呈浅紫色/硬态，表现出幂律型连续光子，光子指数为$ sim $ 1.6。在3keV以上时，光源强度逐渐降低25％，在2keV以下则降低35％。这与X射线成像光谱仪（XIS）一起拍摄的软X射线光谱一起，建议可以认为该X的独立软部件的存在可能与被加热的（保持）的$$的热量保持相同，这是因为从高光（$）到（$）的热量一直存在。 $ sim $ 200keV的折光能量。整个0.7-300keV频谱即使考虑反射也无法产生dbyasinglethermal Comptonization模型。相反，频谱（软多余的除外）可以通过调用两个具有不同$$ y参数的热康顿化分量来得到充分解释。与此对象的高/软状态光谱相反，在这种情况下，检测到的窄铁吸收线的宽度等于或小于等于60eV的等效宽度，因此在XIS之前没有。

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