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Observation of Electron Density Fluctuations by Using the O-Mode Microwave Imaging Reflectometry (O-MIR) in LHD

机译：通过左手模式中的O型微波成像反射法（O-MIR）观察电子密度波动

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The O-mode microwave imaging reflectometry (O-MIR) has been developed. The frequency is 26 - 34 GHz,which corresponds to the cutoff electron density of 0.8 - 1.5 × 1019 m?3. Since the local wave of the newly developed horn antenna millimeter wave imaging device (HMID) is fed by coaxial cable, the optical system of O-MIR is significantly simplified. By using O-MIR, the edge electron density fluctuation in an H-mode plasma is observed in LHD. The spectrum in the wave number and the frequency ( k - ω ) space is obtained by using the two-point correlation analysis. In the H-mode plasma the fluctuation amplitude is higher and the k - ω spectrum has the feature of the drift wave.
机译：已开发出O型微波成像反射仪（O-MIR）。频率为26-34 GHz，对应于0.8-1.5×10 19 m ？3 的截止电子密度。由于新开发的号角天线毫米波成像设备（HMID）的本地波由同轴电缆馈电，因此O-MIR的光学系统得到了显着简化。通过使用O-MIR，可以在LHD中观察到H模式等离子体中的边缘电子密度波动。波数和频率（k-ω）空间中的频谱是通过两点相关分析获得的。在H型等离子体中，波动幅度较高，并且k-ω谱具有漂移波的特征。

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