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Effects of Neutrons and γ-Rays on Scintillation Light in SX Diagnostics for LHD Deuterium Plasma Experiments

机译：LHD氘等离子体实验的SX诊断中中子和γ射线对闪烁光的影响

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In the Large Helical Device (LHD) semiconductor-based detector arrays for soft X-ray (SX) emission have been used for studying MHD instabilities. However, a semiconductor device is expected to be damaged in high neutron flux environments in the coming LHD deuterium plasma experiments. In order to measure an SX in such environments, a CsI:Tl scintillator-based diagnostic is being developed. Though CsI:Tl is sensitive to a neutron and to a gamma-ray, as well, effects on scintillation light can be reduced if very thin CsI:Tl foil (50 micrometers) is used. An SX is converted to visible light by a scintillator and led to optical fibers. The light is transferred away from LHD and detected by a semiconductor detector array set in a neutron and gamma-ray shielding box. Effects by neutrons and gamma-rays on scintillation light are quantitatively estimated based on the deuterium plasma experiment condition of LHD.
机译：在大型螺旋装置（LHD）中，用于软X射线（SX）发射的基于半导体的探测器阵列已用于研究MHD不稳定性。然而，在即将到来的LHD氘等离子体实验中，预计半导体器件会在高中子通量环境中受损。为了在这样的环境中测量SX，正在开发基于CsI：T1闪烁体的诊断。尽管CsI：Tl也对中子和伽马射线敏感，但是如果使用非常薄的CsI：Tl箔（50微米），则可以减少对闪烁光的影响。 SX通过闪烁器转换为可见光，并引向光纤。光从LHD传输出去，并由安装在中子和伽马射线屏蔽盒中的半导体检测器阵列进行检测。根据LHD的氘等离子体实验条件，定量估计中子和伽马射线对闪烁光的影响。

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