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A Complexity Science Study: Effect of Critical Current Density on Semiconductor Laser Diodes and Integrated Circuits

机译：复杂性科学研究：临界电流密度对半导体激光二极管和集成电路的影响

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Complexity science is becoming increasingly poplular in order to more effectively tackle with the convoluted and multi-dimentional problems. In this work, we discuss the application of complexity science based on the case study of reliability physics of semiconductor laser diodes (LDs) and integrated circuits (ICs). We show the common effect of critical current density on laser diode and IC interconnect, and discuss its implication in device design. Our study also demonstrates that universal law of complexity science could be applied to seemingly different fields as the innovative, inter-disciplinary approach to resolve the ever-increasing complex problems.
机译：为了更有效地解决复杂的多维问题，复杂性科学正变得越来越流行。在这项工作中，我们将基于半导体激光二极管（LD）和集成电路（IC）的可靠性物理学的案例研究，讨论复杂性科学的应用。我们展示了临界电流密度对激光二极管和IC互连的共同影响，并讨论了其对器件设计的影响。我们的研究还表明，复杂性科学的普遍定律可以作为一种创新的，跨学科的方法应用于看似不同的领域，以解决日益增长的复杂问题。

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