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A Methodology for Reconstructing DSET Pulses from Heavy-Ion Broad-Beam Measurements

机译:一种从重离子宽波束测量重建DSet脉冲的方法

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摘要

A table-based method for the estimation of heavy-ion-induced Digital Single Event Transient (DSET) voltage pulse-width in a single logic cell has been developed. The estimation method is based on the actual heavy-ion-induced transient current data in a single metal-oxide-semiconductor field effect transistor (MOSFET) used in the logic cell. The DSET pulse waveform in an inverter is obtained from which the pulse-width was estimated to be 420 ps. This DSET pulse-width value (420 ps) falls within the reasonable range of the DSET pulse-width distribution measured by the self-triggering flip-flop latch chain under heavy-ion irradiation test conditions.
机译:已经开发了一种基于表的用于估计单个逻辑小区中的重离子诱导的数字单个事件瞬态(DSET)电压脉冲宽度的方法。 估计方法基于在逻辑单元中使用的单个金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)中的实际重离子诱导的瞬态电流数据。 逆变器中的DSET脉冲波形是从中估计脉冲宽度为420ps的。 该DSET脉冲宽度值(420 PS)落入通过在重离子照射试验条件下通过自触发触发器锁存链测量的DSET脉冲宽度分布的合理范围内。

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