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【24h】

L'enseignement du test à l'Institut des Sciences de l'Ingénieur de Montpellier (ISIM)- Un réflexe à conditionner : la conception en vue du test

机译：在蒙彼利埃工程科学研究所（ISIM）教授测试-要适应的反射：测试的设计

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L'idée directrice de la formation délivrée à l'Université Montpellier 2 sur le test des circuits intégrés est la notion de Conception en Vue du Test. Cette formation est essentiellement dispensée pendant la troisième année de la filière Microélectronique et Automatique (MEA) de l'Institut des Sciences de l'Ingénieur de Montpellier (LSIM) et du DEA de Conception Assistée des Systèmes Informatiques et Automatiques (CASIAM). Pour ce qui est de l'ISLM, cette formation est organisée en plusieurs modules pédagogiques. Le premier d'entre eux consiste en un cours magistral sur le test et la testabilité des circuits intégrés logiques d'une part et le test industriel d'autre part. Un autre module consiste en une série de travaux dirigés et pratiques sur l'utilisation d'outils logiciels de simulation (SystemHilo~®) et génération de vecteurs de lest (HiTest~®, HiScan~®). Un dernier module concerne l'utilisation d'un testeur de circuit (le GR115/ 130~® de GenRad). Un « mini-projet » a aussi été mis en place c/ui permet aux élèves-ingénieurs de concevoir et simuler un petit circuit. Enfin, un certain nombre d'élèves-ingénieurs travaillent sur un projet autour de la conception et du test d'un circuit plus ou moins complexe, dans le cadre de leur projet de troisième année.%The course organized at the Universite Montpellier II on « IC testing » is mainly based on the concept of Design For Testability. This course is targeted on the students of the Microelectronic and Automatic Department of the Institute of Engineering Sciences of Montpellier (ISIM) and those of the DEA on CAD of Automatic and Computing Designs. Concerning ISIM, the course consists of several modules. The first one is a lecture on « Test and Testability of Logical ICs » and « Industrial Testing ». A second part is devoted to the practice of some commercially available tools for simulation (SystemHilo~®) and test generation (HiTest~®, HiScan~®). The last module concerns the practice of a circuit tester (GenRad's GR115/130~®). A « mini-project » is also organized that allows the students to design and simulate a small didactic circuit. Finally, in the framework of their last year project, some student engineers have to design and test a more complex circuit.
机译：蒙彼利埃2大学提供的集成电路测试培训的主要思想是测试视图设计的概念。该培训主要在蒙彼利埃工程科学研究院（LSIM）的微电子学和自动化（MEA）领域以及计算机和自动系统辅助设计的DEA（CASIAM）的第三年提供。关于ISLM，该培训分为几个教育模块。其中第一个包括一方面的讲座，一方面是关于逻辑集成电路的测试和可测试性，另一方面是工业测试。另一个模块包括一系列有关软件仿真工具（SystemHilo〜®）使用和镇流器矢量生成（HiTest〜®，HiScan〜®）的指导性和实际性工作。最后一个模块涉及电路测试仪（GenRad的GR115 / 130〜®）的使用。还设立了一个“小型项目”，使学生工程师可以设计和仿真小型电路。最后，作为第三年项目的一部分，许多学生工程师正在围绕或多或少的复杂电路的设计和测试进行项目研究。％ “ IC测试”主要基于可测试性设计的概念。本课程面向蒙彼利埃工程科学研究院（ISIM）微电子和自动化系的学生以及自动和计算设计CAD的DEA的学生。关于ISIM，该课程包含几个模块。第一个是关于“逻辑IC的测试和可测试性”和“工业测试”的讲座。第二部分专门介绍一些用于仿真（SystemHilo〜®）和测试生成（HiTest〜®，HiScan〜®）的商业工具。最后一个模块涉及电路测试仪（GenRad的GR115 / 130〜®）的实践。还组织了一个“小型项目”，使学生可以设计和模拟小型教学电路。最后，在他们去年的项目框架中，一些学生工程师不得不设计和测试更复杂的电路。

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