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Test costs too much

机译:测试费用太多

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摘要

Concern over test costs is nothing new, but this time, there's a difference. That became clear at a panel session held at the 2017 IEEE International Microwave Symposium (IMS) in June and at the 2017 IEEE EMC+SIPI Symposium "Ask the Experts" panel session held in August.
机译:对测试成本的担忧并不是什么新鲜事,但是这次有所不同。在6月的2017 IEEE国际微波研讨会(IMS)和8月的2017 IEEE EMC + SIPI研讨会“问专家”小组讨论会上,这一点变得显而易见。

著录项

  • 来源
    《Electronic products》 |2017年第4期|4-5|共2页
  • 作者

    Martin Rowe;

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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