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AKTUELLE PRODUKTE MESSDATEN ERFASSEN

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Spezielle Probes für die Pulseinkopplung in IC-Die, um die Störfestigkeit zu untersuchen oder Seitenkanal-Analysen durchzuführen, bietet Langer EMV das Set ICI L-EFT. Es besteht aus einer Vielzahl von ICI-Feldquellen, die elektrische oder magnetische Felder sowie kontaktierte Stromimpulse in einem offenen Die einkoppeln. Damit lassen sich präzise und hochaufgelöste IC-Analysen anfertigen. Des Weiteren können Seitenkanalangriffe simuliert werden, um sicherheitskritische Schaltungen zu testen. Zu den Besonderheiten gehört eine Sondenspitze mit 500 pm, mit der extrem kleine Bereiche geprüft werden können. Zudem besitzen die Probes einen geringen Trigger-to-Pulse-Jitter, was eine Störung von sehr spezifischen Punkten im Programmablauf ermöglicht. Die ICI HH500-15 L-EFT ist eine Magnetfeldquelle, die transiente Impul- se mit einer Anstiegszeit von weniger 2 ns erzeugt. Die E-Feld-quelle ICI E450 L-EFT mit einem Elektrodendurchmesser von 450 pm ermöglicht es, einzelne Bereiche im IC selektiv auf elektrische Störfestigkeit zu prüfen. ICI I900 L-EFT ist eine Stromimpulsquelle. Die Spitze ist federmontiert, um das direkt kontaktierte Substrat zu prüfen.
机译：Langer EMV提供ICI L-EFT套件，用于IC芯片中脉冲耦合的特殊探头，以便研究抗干扰性或进行边通道分析。它由大量ICI场源组成，这些场源耦合电场或磁场以及裸芯片中的接触电流脉冲。这样可以进行精确和高分辨率的IC分析。还可以模拟侧通道攻击，以测试对安全至关重要的电路。特殊功能包括一个500 pm的探针，可以检查极小的区域。此外，探头的触发脉冲抖动小，可以扰乱程序序列中非常特定的点。 ICI HH500-15 L-EFT是一种磁场源，可产生瞬态脉冲，其上升时间小于2 ns。电极直径为450 pm的电场源ICI E450 L-EFT可选择性地检查IC中的各个区域的电气抗扰性。 ICI I900 L-EFT是电流脉冲源。尖端安装在弹簧上，以检查直接接触的基材。

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    《Elektronikpraxis》 |2018年第11appa期|19-19|共1页
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