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【24h】

Mixed-Signal-I/O-Modul erweitert Testbarkeit von Baugruppen

机译：混合信号I / O模块扩展了组件的可测试性

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Der Jenaer Prüftechnik-Spezialist GÖPEL electronic ergänzt mit dem SFX-5296LX die Produktpalette der JTAG/Boundary-Scan-Plattform Scanflex um ein Mixed-Signal-I/O-Modul. Es bietet eine leistungsfähige Lösung zur Erweiterung des Boundary-Scan-Verfahrens auf scan-unfä-hige Partitionen. Dadurch lassen sich etwa Baugruppen testen, die über nur einen Boundary-Scan-fähigen IC verfügen.
机译：耶拿测试技术专家GÖPELelectronic使用SFX-5296LX通过混合信号I / O模块补充了JTAG /边界扫描平台Scanflex的产品范围。它提供了强大的解决方案，可以将边界扫描过程扩展到无法扫描的分区。例如，这可以测试仅具有一个具有边界扫描功能的IC的组件。

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    《Elektronikpraxis》 |2015年第14期|38-38|共1页
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