Detekcja defektów cienkich struktur elektroprzewodzących z wykorzystaniem termografii

Ewa KORZENIEWSKA; Piotr MURAWSKI; Andrzej KRAWCZYK; Ryszard PAWLAK

首页> 外文期刊>Przeglad Elektrotechniczny >Detekcja defektów cienkich struktur elektroprzewodzących z wykorzystaniem termografii

【24h】

Detekcja defektów cienkich struktur elektroprzewodzących z wykorzystaniem termografii

机译：使用热成像技术检测薄导电结构中的缺陷

获取原文

获取原文并翻译 | 示例

掌桥外文数据库（机构版） >>

开具论文收录证明 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

The paper presents a method for detecting defects of thin electroconductive layers formed during their manufacturing or using via thermographic images analysis. These layers are formed on a flexible composite substrate with using vacuum deposition PVD technology. As a result of the electric current flow through the samples it comes to the uneven heating, and this is the basis for detection of inhomogenity in structures via thermographic analysis.%W artykule zaprezentowano metodę wykrywania defektów warstw cienkich elektroprzewodzących powstałych w procesie ich wytwarzania lub użytkowania za pośrednictwem analizy zdjęć termograficznych. Warstwy te zostały wytworzone na elastycznym podłożu kompozytowym z wykorzystaniem technologii osadzania próżniowego PVD. W wyniku przepływu prądu elektrycznego przez próbki, dochodzi do ich nierównomiernego nagrzewania, a to stanowi podstawę do detekcji niejednorodności struktur w analizie termograficznej.

机译：该论文提出了一种用于检测在制造或使用热成像图像分析过程中形成的薄导电层缺陷的方法。这些层使用真空沉积PVD技术形成在柔性复合基板上。由于电流流过样品，导致加热不均匀，这是通过热成像分析检测结构不均匀性的基础。通过热成像图像的分析。这些层是使用PVD真空沉积技术在柔性复合材料基板上生产的。由于电流流过样品，因此样品受到不均匀加热，这是在热成像分析中检测结构异质性的基础。

著录项

来源
《Przeglad Elektrotechniczny》 |2016年第1期|93-95|共3页
作者
Ewa KORZENIEWSKA; Piotr MURAWSKI; Andrzej KRAWCZYK; Ryszard PAWLAK;
展开▼
作者单位

Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul. Stefanowskiego 18/22, 90-924 Łódź;

Wojskowy Instytut Medyczny, Szaserów 123, 04-141 Warszawa;

Wojskowy Instytut Medyczny, Szaserów 123, 04-141 Warszawa,Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, ul. Armii Krajowej 17, 42-200 Częstochowa;

Politechnika Łódzka, Instytut Systemów Inżynierii Elektrycznej, ul. Stefanowskiego 18/22, 90-924 Łódź;

展开▼
收录信息
原文格式 PDF
正文语种 pol
中图分类
关键词
termografia; próżniowe nanoszenie cienkich warstw; PVD; cienkie warstwy elektroprzewodzące;

机译：热成像真空施加薄层;PVD;薄导电层;

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Wyznaczanie granic defektów podpowierzchniowych metodą aktywnej termografii - badania modelowe [J] . Sławomir GRYŚ, Waldemar MINKINA Przeglad Elektrotechniczny . 2013,第4期

机译：使用主动热成像方法确定表面缺陷的边界-模型测试
2. Dwuetapowy algorytm wyznaczania głębokości defektów z zastosowaniem aktywnej termografii dynamicznej [J] . Sebastian DUDZIK, Waldemar MINKINA Pomiary Automatyka Kontrola . 2013,第9期

机译：主动动态热成像技术确定缺陷深度的两步算法
3. Pomiary rezystancji styku nitek elektroprzewodzących [J] . Krzysztof GNIOTEK, Janusz ZIĘBA, MichałFRYDRYSIAK Pomiary Automatyka Kontrola . 2008,第9期

机译：导电线接触电阻的测量
4. Detekcja czasu nadej?cia fali P sygna?u sejsmicznego metod? najmniejszych kwadratów z wykorzystaniem fali elementarnej jako sygna?u wzorcowego [C] . Polish-Czech-Slovakian symposium . 1999

机译：检测时间步行波P符号？在地震方法中？使用基本波作为参考标志的最小方格
5. DETEKCJA USZKODZEŃ NA PRZYKŁADZIE DWUKONDYGNACYJNEJ RAMY PORTALOWEJ Z WYKORZYSTANIEM SZTUCZNYCH SIECI NEURONOWYCH [O] . Dominika ZIAJA, Bartosz MILLER 2016

机译：DETEKCJaUsZKODZEŃ在pRZYKŁaDZIEWLUKONDYGNaCYJNEJRamY pORTaLOWEJ Z WYKORZYsTaNIEm sZTUCZNYCH sIECI NEURONOWYCH

Detekcja defektów cienkich struktur elektroprzewodzących z wykorzystaniem termografii

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅