...
首页> 外文期刊>Przeglad Elektrotechniczny >Improvement of the E-Field antenna for susceptibility testing
【24h】

Improvement of the E-Field antenna for susceptibility testing

机译:改进电磁场天线的磁化率测试

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

The paper deals wit shape optimization of the E-Field generating antenna for susceptibility testing according to military EMC standard. An optimized antenna shapes allows to minimize the cost of power amplifier used for testing and thus brings substantial economical benefits. The optimal design uses numerical FEM model of antenna and applies Levenberg-Marquardt algorithm to minimize the objective function correlated with non-symmetrical pattern of generated field.%Artykuł przedstawia metodykę optymalnego projektowania anteny generującej pole elektryczne do testów narażeniowych zgodnych z wojskowymi standardami kompatybilności elektromagnetycznej. Zoptymalizowana antena umożliwia zmniejszenie kosztów układu zasilającego przy zachowaniu nie gorszych parametrów generowanego pola elektrycznego. Do optymalnego projektowania wykorzystano algorytm Levenberga-Marquardta i numeryczny model otoczenia anteny wykonany za pomocą metody elementów skończonych.
机译:本文针对根据军用EMC标准进行磁化率测试的电场产生天线的形状优化进行了研究。优化的天线形状可以最大程度地降低用于测试的功率放大器的成本,从而带来可观的经济利益。优化设计使用天线数值有限元模型,并应用Levenberg-Marquardt算法来最小化与生成场的非对称模式相关的目标函数。经过优化的天线可在保持所产生电场参数的同时降低电源系统的成本。运用Levenberg-Marquardt算法和有限元方法建立的天线环境数值模型进行了优化设计。

著录项

  • 来源
    《Przeglad Elektrotechniczny》 |2012年第4a期|p.114-116|共3页
  • 作者

    Jacek STARZYNSKI; Jan SROKA;

  • 作者单位

    Institute of Theory of Electrical Engineering, Measurement and Information Systems, Faculty of Electrical Engineering, Warsaw University of Technology, ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa, Poland;

    Institute of Theory of Electrical Engineering, Measurement and Information Systems, Faculty of Electrical Engineering, Warsaw University of Technology, ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa, Poland;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    EMC; E-Field; susceptibility; numerical model; optimal design;

    机译:EMC;电子领域易感性数值模型优化设计;

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号