首页> 外文期刊>Przeglad Elektrotechniczny >Miernik elementów RLC na bazie układu 'programmable System On a Chip'
【24h】

Miernik elementów RLC na bazie układu 'programmable System On a Chip'

机译:基于“片上可编程系统”的RLC仪表

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

The paper presents impedance parameters meter based on "programmable System On a Chip" integrated circuit by Cypress. The chip contains microprocessor as well as reprogrammable analog and digital blocks. The CY8C26443 was used in the prototype device. The method based on discrete Fourier transform was used allowing to determine Re and Im parts of the measured impedance on the basis of acquired samples of voltage and current signals. Using simple model, values ofLCR components are calculated. (LCR meter based on "System on a Chip" circuit).%W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu „programmable System On a Chip" firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fourier'a pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re i Im mierzonej impedancji, a następnie wartości elementów RLC przy założonym modelu impedancji.
机译:本文提出了一种基于赛普拉斯的“片上可编程系统”集成电路的阻抗参数计。该芯片包含微处理器以及可重新编程的模拟和数字模块。 CY8C26443用于原型设备。使用基于离散傅立叶变换的方法,可以基于采集的电压和电流信号样本确定被测阻抗的Re和Im部分。使用简单的模型计算LCR组件的值。 (基于“片上系统”电路的LCR表)%本文介绍了一种基于赛普拉斯可编程片上系统的阻抗表,它包含微处理器以及模拟和数字可重编程模块。使用CY8C26443系统,其中实施了基于离散傅里叶变换的测量方法,该方法允许基于收集的电压和电流样本确定被测阻抗的Re和Im分量,然后使用假定的阻抗模型确定RLC元件的值。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号