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【24h】

Elektronenstrahlmikroanalyse (ESMA) bei Durchriebpruefungen an funktioneilen Edelmetallschichten1)

机译：功能性贵金属层磨耗测试中的电子束微分析（ESMA）1）

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Die ESMA ist notwendiger Bestandteil von Verschleiß- und Durchriebpruefungen in der modernen Kontaktwerkstoff- und Schichtentwicklung. Wegen des relativ hohen Preises von Mikrosondenunter-suchungen (etwa 200 M/h) sollten zunaechst ebenfalls brauchbare, aber billigere Methoden, wie Lichtmikroskopie oder REM, bevorzugt werden, ehe in Zweifels- oder Sonderfaellen Reibspursondierungen groeßeren Umfangs und der Nachweis des Durchriebs mit ESMA erfolgen. Sorgfaeltige Vorbereitung der Sonde, zweckmaeßige Probenauswahl und Klarheit ueber die gewünschte Art der Ergebnisse sind Voraussetzungen fuer eine rationelle und zweifelsfreie Durchriebidentifizierung auch bei groeßeren Pruef umfangen.
机译：ESMA是现代接触材料和涂层开发中磨损测试的必要组成部分。由于微传感器检查的价格相对较高（约200 M / h），因此应优先使用可用的但便宜的方法，例如光学显微镜或SEM，在有疑问或特殊情况的大型情况下，进行摩擦痕迹测深和ESMA的磨损检测。精心准备探头，适当的样本选择以及对所需结果类型的清晰了解，即使在较大的测试条件下，也能进行合理，明确的通轮识别。

著录项

  • 来源
    《Elektrie》 |2017年第3907期|6-8|共3页
  • 作者

    Helga Berndt; G. Baer;

  • 作者单位

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  • 收录信息
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  • 正文语种 eng
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