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【24h】

Was leisten normgerechte EMV-Störfestigkeitsnachweise gegenüber pulsförmigen Prüfstörgrößen aus statistischer Sicht?

机译：从统计角度来看，符合标准的EMC抗扰性测试对脉冲状测试干扰有何作用？

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摘要

Im praktischen EMV-Prüfgeschehen werden elektronische Geräte mit Prüfstörgrößen nach IEC 801, DIN VDE 0843, DIN 40839 u.a. Vorschriften und Normen beaufschlagt, um ihre Störfestigkeit, d.h. Funktionsbeständigkeit nachzuweisen. Dabei passiert es immer wieder, insbesondere im Zusammenhang mit pulsförmigen Prüfstörgößen (ESD-Kontakt- und Luftentladung, Burstfolge u.a.), daß Geräte, die den Normnachweis bestanden haben, bei Folgebeanspruchungen Fehlfunktionen zeigen, und daß bei einer Wiederholung der Standard-Testprozedur am gleichen oder auf einem anderen Prüfplatz der Störfestigkeitsnachweis nicht bestanden wird. Damit erhebt sich die Frage: liegt dies an mangelnder Sorgfalt bei der Durchführung der Prüfung oder an Unzulänglichkeiten der zugrundegelegten Normtestverfahren? Im folgenden wird gezeigt, daß mögliche Ursachen für die genannten Defizite im Zufallscharakter der Gütekenngröße "Störfestigkeit" begründet sein können, ein Sachverhalt, dem in den derzeit geltenden Normen zur Prüfung der Störfestigkeit nicht Rechnung getragen wird. Doch werfen wir zuvor einen Blick auf die Faktoren, durch welche die Störfestigkeitseigenschaften eines Produkts festgelegt werden bzw. die auf den Meßwert der Störfestigkeit Einfluß haben.
机译：在实际的EMC测试中，具有符合IEC 801，DIN VDE 0843，DIN 40839等标准的测试干扰的电子设备适用法规和标准以确保其免疫力，即功能可靠性的证明。反复发生这种情况，特别是与脉冲状的测试干扰（ESD接触和空气放电，爆裂序列等）有关，通过标准验证的设备在随后的应力下会出现故障，并且当重复标准测试程序时，会再次出现相同或相同的结果。抗扰性测试未在另一个测试站通过。这就提出了一个问题：这是由于执行测试时的谨慎程度不足还是底层标准测试程序不足所致？下面显示出所提及的缺陷的可能原因可能是由于质量参数“免疫力”的随机性所致，这一事实在当前适用的测试免疫力的标准中并未予以考虑。但首先让我们看一下决定产品抗扰性或影响抗扰度测量值的因素。

著录项

  • 来源
    《Elektrie》 |2015年第2317期|13-17|共5页
  • 作者

    E. Habiger; J. Wolf; St. Wendsche;

  • 作者单位

    Technische Universität Dresden;

    Technische Universität Dresden;

    Technische Universität Dresden;

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