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Properties of porous silicon: EMIS Datareviews Series No. 18 [Book Review]

机译：多孔硅的特性：EMIS Datareviews系列第18号[书评]

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来源
《Engineering Science and Education Journal》 |1999年第2期|P.58-58|共1页
作者
Canham L.; Bayliss S.;
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作者单位

INSPEC, The Institution of Electrical Engineers;

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收录信息
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类无线电电子学、电信技术;
关键词

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