...
  • 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外文期刊>IEEE transactions on device and materials reliability >A Fault Injection Platform Supporting Both SEU and Multiple SEUs for SRAM-Based FPGA
【24h】

A Fault Injection Platform Supporting Both SEU and Multiple SEUs for SRAM-Based FPGA

机译：支持基于SRAM的SEU和多个SEU的故障注入平台

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

A fault injection platform which supports both single event upset (SEU) and multiple SEUs for SRAM-based field programmable gate arrays (FPGA) is proposed. The fault injector can inject SEU or accumulated multiple SEUs and repair the SEUs by itself. The proposed fault injection platform is fast because the address generator can generate available value in real time. We show the error rates of the SEU test and multiple SEUs test. The experimental results indicate that SEU has an impact on the sensitivity of design to the next SEU in SRAM-based FPGA.
机译：提出了一种故障注入平台，该平台支持基于SRAM的现场可编程门阵列（FPGA）的单事件翻转（SEU）和多个SEU。故障注入器可以注入SEU或累积多个SEU，并可以自行修复SEU。提议的故障注入平台速度很快，因为地址生成器可以实时生成可用值。我们显示了SEU测试和多个SEU测试的错误率。实验结果表明，SEU对基于SRAM的FPGA中设计对下一个SEU的敏感性有影响。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号