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首页> 外文期刊>IEEE Transactions on Magnetics >Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ seedlayer for recording media on alternative substrates
【24h】

Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ seedlayer for recording media on alternative substrates

机译：Cr-Ta / sub 2 / O / sub 5 /种子层，用于在其他衬底上记录介质

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Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ pre-coat significantly improved the coercivity and recording performance of CoCrPtTa/Cr films on glass-ceramic substrate. X-ray diffraction patterns showed enhanced Cr [110] and in-plane Co (100) textures due to Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ pre-coat. X-ray photoelectron spectroscopy indicated the existence of Ta/sub 2/O/sub 5/ in Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ film. Unlike the pure Cr, Cr-Ta/sub 2/O/sub 5/ film on glass-ceramic substrate displayed very fine and uniform grain structure. This might be due to the less mobile Ta/sub 2/O/sub 5/ oxides that prevent high-mobility Cr atoms from migration to form large grains. The impact of pre-coat thickness and sputter conditions on media magnetic properties was also investigated.
机译：Cr-Ta / sub 2 / O / sub 5 /预涂层显着提高了玻璃陶瓷基板上CoCrPtTa / Cr薄膜的矫顽力和记录性能。 X射线衍射图显示出由于Cr-Ta / sub 2 / O / sub 5 /预涂层而增强的Cr [110]和面内Co（100）织构。 X射线光电子能谱表明Cr-Ta / sub 2 / O / sub 5 /膜中存在Ta / sub 2 / O / sub 5 /。与纯Cr不同，玻璃陶瓷基体上的Cr-Ta / sub 2 / O / sub 5 /膜显示出非常精细且均匀的晶粒结构。这可能是由于移动性较低的Ta / sub 2 / O / sub 5 /氧化物阻止了高迁移率Cr原子迁移而形成大晶粒。还研究了预涂层厚度和溅射条件对介质磁性能的影响。

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