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Current Status and Future Prospect for Analog and RF CMOS Integrated Circuits

机译：模拟和RF CMOS集成电路的现状和未来展望

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Current status and future prospect for analog and RF CMOS integrated circuits will be discussed. The physical relationship between SNR and consumed energy and the performance trend between SNR and signal bandwidth are reviewed to understand ADCs. Next, the major A/D conversion architectures will be studied. The mismatch voltage distribution vs. transistor size and compensation technique in a comparator will be studied for the flash ADCs. The nature of a capacitive DAC and the high precision techniques, and the mechanism of noise related with the conversion speed in SAR ADC will be shown. Lastly , a technology direction of ADCs will be discussed. Also, wide band RF receiver circuits and now-power, low-noise, and low voltage signal sensing circuits will be discussed to show the future prospects for the analog front-end circuits.
机译：将讨论模拟和RF CMOS集成电路的现状和未来。回顾了SNR和能耗之间的物理关系以及SNR和信号带宽之间的性能趋势，以了解ADC。接下来，将研究主要的A / D转换架构。对于闪存ADC，将研究比较器中的失配电压分布与晶体管尺寸和补偿技术的关系。将显示电容DAC的性质和高精度技术，以及与SAR ADC中的转换速度相关的噪声机理。最后，将讨论ADC的技术方向。此外，还将讨论宽带RF接收器电路以及现在功率，低噪声和低压信号感测电路，以显示模拟前端电路的未来前景。

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