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首页> 外文期刊>電子情報通信学会技術研究報告 >タッビング・デバイスによる電気接点の劣化現象: タッピング・デバイスの試作（1）
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タッビング・デバイスによる電気接点の劣化現象: タッピング・デバイスの試作（1）

机译：分接装置对电触点的降解现象：分接装置的试制（1）

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Authors have studied the influence on electrical contact resistance by external micro-oscillation using a hammering oscillation mechanism (HOM), a sliding contact mechanism (SCM) and a 3 dimensional oscillating mechanism (3DOM). However, it was difficult to inspect the degradation phenomenon of electrical contacts in relatively larger systems or in equipments in the field by means of the mechanisms in which the objective materials were requested to be on the stage. Therefore they have developed and made a handy "tapping device (TPD)" experimentally without a special stage for the inspection but with quantitative property to some extent. It was suggested that the device could provide the oscillations for the objects with constant loads and energies but without regard to proficient operators' skills. And it was shown that the dynamical characteristics of the device were able to be analyzed by virtue of mathematical and mechanical models.%著者らは，ハンマリング加振機構（HOM），摺動接触機構（SCM），および3次元加振機構（3DOM）にょって外部小振動が電気接点に与える影響について検討してきた．しかし，これらの機構では，対象物を専用のステージ上に載せる必要があるため，比較的大きなシステム内およびフィールド内における電気接点の試験を行うことには困難があった．そこで著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディぼ　タッピング・デバイス（TPD）”を開発し試作した．本デバイスによれば，実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重・定エネルギーで加振できることが示唆された.さらに，数学的および機械工学的なモデルにより本デバイスの動作特性を解析することが可能であることが示された．
机译：作者研究了使用锤击振荡机制（HOM），滑动接触机制（SCM）和3维振荡机制（3DOM）的外部微振荡对电接触电阻的影响。但是，难以通过要求将目标材料放在舞台上的机制来检查相对较大的系统或现场设备中电触点的退化现象。因此，他们在实验上开发并制造了一种方便的“攻丝装置（TPD）”，没有特殊的检查阶段，但在一定程度上具有定量特性。建议该设备可以为具有恒定负载和能量的物体提供振动，而无需考虑熟练的操作人员的技能。结果表明，该装置的动力学特性可以通过数学模型和力学模型进行分析。％著者らは，ハンマリング加振机构（HOM），折动接触机构（SCM），および3次元加振机构（3DOM）にょって外部小振动が电気接点に与える影响について検讨してきた。しかし，これらの机构では，対象物を専用のステージ上に载せる必要があるため，比较的大きなシステム内およびフィールドそこで著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディぼタッピング・デバイス（TPD）”を开発し试作デバ。本デバイスによれば，実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重・定エネルギーで加振できることが示唆された。さらに，数学的および机械工学的なモデルにより本デバイスの动作特性を解析することが可能であることが示された。

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