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Direct Atomic Emission Analysis of Bismuth and Germanium Oxides and Bismuth Orthogermanate Crystals Using Two-Jet Arc Plasma

机译:使用双射流电弧等离子体直接分析铋和锗氧化物以及高锗酸铋晶体的原子发射。

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摘要

Simple, high-speed procedures have been proposed for direct analysis of Bi_2O_3, GeO_2, and crystals of bismuth orthogermanate (BGO) by atomic emission spectroscopy with a high-power two-jet arc plasma as an excitation source. The detection limits for 36 impurities have been shown to lie in the ranges of 0.008-2 (Bi_2O_3), 0.006-4 (GeO_2), and 0.008-3.5 μg/g (BGO).
机译:提出了一种简单,高速的方法,通过原子发射光谱法以高功率两喷弧等离子体为激发源,直接分析Bi_2O_3,GeO_2和高锗酸铋(BGO)晶体。对36种杂质的检出限已显示在0.008-2(Bi_2O_3),0.006-4(GeO_2)和0.008-3.5μg/ g(BGO)的范围内。

著录项

  • 来源
    《Inorganic materials》 |2014年第5期|489-494|共6页
  • 作者

    N. P. Zaksas;

  • 作者单位

    Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, pr. Akademika Lavrent'eva 3, Novosibirsk, 630090 Russia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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