机译:基于脉冲S参数测量的GaN Hemts流线型漏极滞后模型
Brandenburg Tech Univ Cottbus Senftenberg D-03046 Cottbus Germany|Leibniz Inst Hochstfrequenztech Ferdinand Braun Inst D-12489 Berlin Germany;
Leibniz Inst Hochstfrequenztech Ferdinand Braun Inst D-12489 Berlin Germany;
Leibniz Inst Hochstfrequenztech Ferdinand Braun Inst D-12489 Berlin Germany;
Univ Ferrara Dept Engn I-44122 Ferrara Italy;
Univ Ferrara Dept Engn I-44122 Ferrara Italy;
Leibniz Inst Hochstfrequenztech Ferdinand Braun Inst D-12489 Berlin Germany;
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Chalmers model; drain-lag effects; GaN HEMT modeling; pulsed S-parameter measurements; trapping effects;
机译:基于脉冲S参数测量的GaN HEMT简化的漏滞模型
机译:通过低频S参数测量和基于TCAD的物理设备仿真识别微波功率AlGaN / GaN HEMT中的GaN缓冲阱
机译:非等动力多偏置S参数测量的电荷保守GaN HEMT非线性建模
机译:基于Chalmers模型和脉冲S参数测量的可靠GaN HEMT建模
机译:集成电路设备的高频测量和互连(S参数,采样示波器,光电导体,脉冲激光,皮秒)
机译:基于表面电位的P-GaN门垫的紧凑型造型
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明
机译:开发基于物理的alGaN / GaN HEmT有限元模型,该模型能够适应工艺和外延变化并使用多个DC参数进行校准(后印刷)