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Terminal reliability analysis of multistage interconnection networks

机译：多级互连网络的终端可靠性分析

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Terminal reliability of multistage interconnection network (MIN) is the probability of at least one fault free path between any source-destination nodes pair. MIN is used to interconnect processors and memory modules in multi-processor system. In this paper, terminal reliability is estimated and validated for existing MINs (i.e., SEN, SEN+, SEN+2, GIN, CGIN, PCGIN, 3D-GIN, 4D-GIN-1, 4D-GIN-2, 4D-GIN-3, and SEGINs). The comparison and performance analysis of MINs based on various indices are also presented.
机译：多级互连网络（MIN）的终端可靠性是任何源－目标节点对之间至少一条无故障路径的概率。 MIN用于互连多处理器系统中的处理器和内存模块。本文针对现有的MIN（即SEN，SEN +，SEN + 2，GIN，CGIN，PCGIN，3D-GIN，4D-GIN-1、4D-GIN-2、4D-GIN- 3和SEGIN）。还介绍了基于各种指标的MIN的比较和性能分析。

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