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首页> 外文期刊>Japanese journal of applied physics >Microscopic Degradation Mechanisms in Silicon Photovoltaic Module under Long-Term Environmental Exposure
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Microscopic Degradation Mechanisms in Silicon Photovoltaic Module under Long-Term Environmental Exposure

机译：长期暴露在硅光伏组件中的微观降解机理

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摘要

We used several analytical methods to identify the mechanism underlying the performance degradation in a photovoltaic (PV) module subjected to long-term (10 years) field exposure. Cloudy visual defects in this module were caused by delamination between the poly(ethylene vinyl acetate) (EVA) and antireflection coating films on the Si substrate. The delamination was considered to be caused by the formation of a segregation layer and oxidative degradation of EVA. Furthermore, it was found that sodium ions diffused from the superstrata glass into the EVA film and Si cell. We confirm that diffusion of sodium ions caused the degradation of Si cells and the superstate glass of this module.
机译：我们使用了几种分析方法来确定长期（10年）暴露在光伏（PV）模块中性能下降的根本原因。该模块中模糊的视觉缺陷是由Si衬底上的聚（乙烯乙酸乙烯酯）（EVA）和抗反射涂层之间的分层引起的。认为分层是由偏析层的形成和EVA的氧化降解引起的。此外，发现钠离子从上层玻璃扩散到EVA膜和Si电池中。我们证实，钠离子的扩散会导致该模块的Si电池和超状态玻璃的降解。

著录项

  • 来源
    《Japanese journal of applied physics》 |2012年第10issue2期|10NF07.1-10NF07.5|共5页
  • 作者

    Keiko Matsuda; Takeshi Watanabe; Koichi Sakaguchi; Masanobu Yoshikawa; Takuya Doi; Atsushi Masuda;

  • 作者单位

    Toray Research Center, Inc., Otsu 520-8567, Japan;

    Toray Research Center, Inc., Otsu 520-8567, Japan;

    Toray Research Center, Inc., Otsu 520-8567, Japan;

    Toray Research Center, Inc., Otsu 520-8567, Japan;

    National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tosu, Saga 841-0052, Japan;

    National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tosu, Saga 841-0052, Japan;

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