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Nonlinear Dependences in Pulse-Pair-Excited Scanning Tunneling Microscopy

机译：脉冲对激发扫描隧道显微镜中的非线性相关性

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The mechanism underlying an ultrafast decay of a sample parameter appears that in a time-resolved tunnel current signal obtained by pulse-pair-excited scanning tunneling microscopy (PPX-STM) was theoretically and experimentally investigated. It was shown that the nonlinear dependence of the tunnel current on the sample parameter allows us to observe the decay process in a PPX-STM experiment even when the sample parameter itself does not have a nonlinear response to the light intensity. This result promises the applicability of PPX-STM measurement to a wide variety of samples. On the other hand, such a nonlinear dependence makes the analysis of the obtained data very difficult. Since the apparent decay time in the signal can be different from the actual value, the analysis must be carried out with detailed knowledge of dependence of the tunnel current on the sample parameter.
机译：样品参数超快衰减的机理似乎是在理论上和实验上研究了通过脉冲对激发扫描隧道显微镜（PPX-STM）获得的时间分辨隧道电流信号。结果表明，即使样本参数本身对光强度没有非线性响应，隧道电流对样本参数的非线性依赖性也使我们能够观察PPX-STM实验中的衰减过程。这一结果保证了PPX-STM测量适用于各种样品。另一方面，这种非线性依赖性使得对获得的数据的分析非常困难。由于信号中的表观衰减时间可能与实际值不同，因此必须在详细了解隧道电流与采样参数的相关性的基础上进行分析。

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