...
首页> 外文期刊>Journal of Applied Physics >Erratum: “Magnetization dynamics and interface studies in ion-beam sputtered Si/CoFeB (8)/MgO (4)/CoFeB (8)/Ta (5) structures” [J. Appl. Phys. 115, 17D127 (2014)]
【24h】

Erratum: “Magnetization dynamics and interface studies in ion-beam sputtered Si/CoFeB (8)/MgO (4)/CoFeB (8)/Ta (5) structures” [J. Appl. Phys. 115, 17D127 (2014)]

机译:勘误表:“离子束溅射Si / CoFeB(8)/ MgO(4)/ CoFeB(8)/ Ta(5)结构中的磁化动力学和界面研究” [J.应用物理115,17D127(2014)]

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |2014年第23期|1-1|共1页
  • 作者单位

    Thin Film Laboratory, Department of Physics, Indian Institute of Technology Delhi, New Delhi 110016, India;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号