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【24h】

Auger profiling of ’’abrupt’’ LPE AlxGa1-xAs‐GaAs heterojunctions

机译:俄歇分析或``突然''LPE AlxGa1-xAs-GaAs异质结

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摘要

Ion milling–Auger electron spectroscopy has been used to study, for the first time, the chemical widths of ’’abrupt’’ LPE AlxGa1-xAs‐GaAs heterojunctions with composition x=0.43, 0.60, and 0.85. ’’Abrupt’’ LPE junctions were found to have chemical interface widths of ≪90–130 Å.
机译:离子铣削-俄歇电子能谱法已首次用于研究“突然的” LPE AlxGa1-xAs-GaAs异质结的化学宽度,其组成x = 0.43、0.60和0.85。发现“突然” LPE结的化学界面宽度为90-130Å。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1977年第7期|P.3147-3149|共3页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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