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Investigation of indium-defect pairs in CdTe by PAC spectroscopy

机译:PAC光谱法研究CdTe中的铟缺陷对

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摘要

PAC spectroscopy is used to investigate indium-defect pairs in p-CdTe. It is shown that the frequently reported EFG_(60) (v_Q=60 MHz, η=0.15) is not the only signal which characterizes In-A centers. Depending on the annealing history of the sample, various EFGs with coupling constants between 49 and 60 MHz are observed at 300 K.
机译:PAC光谱用于研究p-CdTe中的铟缺陷对。结果表明,经常报告的EFG_(60)(v_Q = 60 MHz,η= 0.15)并不是唯一表征In-A中心的信号。根据样品的退火历史,在300 K时会观察到耦合常数在49和60 MHz之间的各种EFG。

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