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机译:评论“掺锡InSb薄膜的传输特性及其在霍尔元件中的应用”一文。晶体生长251(2003)560]
Instytut Fizyki, Politechnika Poznanska Phisics Dep., ul. Nieszawska 13a, Poznan 60965, Poland;
机译:答复M. Oszwaldowski [J.教授的文章“掺Sn的InSb薄膜的传输特性及其在霍尔元件中的应用[J. Crys Growth 251(2003)560]”的评论。 Crys Growth 260(2004)600]'
机译:掺锡InSb薄膜的传输特性及其在霍尔元件中的应用
机译:研究(111)InSb薄膜上的晶体生长以产生高性能霍尔元件
机译:掺锡InSb薄膜的传输现象及其在霍尔元件中的应用
机译:SnSe2单晶和薄膜的生长和电性能。
机译:限制高霍尔迁移率非常薄的掺Sn的In2O3薄膜中载流子输运的因素的新见解
机译:具有铁氧体夹层结构的高灵敏度INSB薄膜霍尔元素及其广泛的商业应用