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【24h】

Mixing in PCBM/P3HT bilayers, using in situ and ex situ neutron reflectivity

机译：使用原位和异位中子反射率混合PCBM / P3HT双层

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In situ and ex situ neutron reflectivity is used to characterize annealed regioregular-P3HT/PCBM bilayers. In situ annealing of a 20 nm PCBM/35 nm P3HT bilayer at 170 ℃ reveals rapid mixing of PCBM and P3HT to produce a polymer-rich layer that contains around 18-20% PCBM. Samples with three different thicknesses of P3HT layer are ex situ annealed at 140 ℃. This again reveals migration of PCBM into the P3HT and vice versa, with the polymer-rich layer in the 20 nm PCBM/ 35 nm P3HT sample containing 19% PCBM. Complete migration of the entire PCBM layer into the P3HT layer is observed for a 20 nm PCBM/80 nm P3HT bilayer. The robustness of fitted model composition profiles, in comparison with real-space imaging of sample surface morphology and previous work on annealed P3HT/PCBM bilayer compositions, is discussed in detail.
机译：原位和异位中子反射率用于表征退火的区域规则P3HT / PCBM双层。在170℃下对20 nm PCBM / 35 nm P3HT双层薄膜进行原位退火后，发现PCBM和P3HT迅速混合，产生了富含聚合物的层，其中含有约18-20％的PCBM。将三种不同厚度的P3HT层样品在140℃进行异位退火。这再次表明PCBM迁移到P3HT中，反之亦然，在20 nm PCBM / 35 nm P3HT样品中富含19％PCBM的富聚合物层。对于20 nm PCBM / 80 nm P3HT双层，观察到整个PCBM层完全迁移到P3HT层。与样品表面形态的真实空间成像以及退火过的P3HT / PCBM双层组合物的先前工作相比，拟合模型组合物轮廓的鲁棒性进行了详细讨论。

著录项

  • 来源
    《Journal of Materials Research》 |2017年第10期|1946-1956|共11页
  • 作者

    Dyfrig Mon; Anthony M. Higgins; Philipp Gutfreund; David James;

  • 作者单位

    College of Engineering, Swansea University, Wales SAI 8EN, UK;

    College of Engineering, Swansea University, Wales SAI 8EN, UK;

    Large Scale Structures, Institut Laue-Langevin, Grenoble 38000, France;

    College of Engineering, Swansea University, Wales SAI 8EN, UK;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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