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Nanoscale heterogeneities in amorphous semiconductor_xmetal_1-x. alloys: A small-angle x-ray scattering study

机译：非晶半导体_xmetal_1-x中的纳米级异质性。合金：X射线小角度散射研究

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A series of small-angle x-ray scattering (SAXS) experiments has been conducted in order to probe further the X-ray absorption fine structure (EXAFS)-derived nanoscale structure of amorphous hydrogenated silicon_xtin_l-x, hydrogenated silicon_xnickel_l-x, and germanium_xgold_l-x. materials as a function of metal content. The SAXS results reveal information on cluster formation within these reactively radio-frequency-sputtered amorphous thin films. The data are considered within the context of EXAFS data and lend support to a model in which the degree and nature of the heterogeneities depend primarily on the metal species, with the level of metal content inducing additional effects. In particular, the results support a percolation model fOr the metal: nonmetal transition in amorphous semiconductor_xtransition metal_l-x. alloys, the conducting volume elements comprising metal or metal compound-rich regions within the amorphous tetrahedral host network.
机译：为了进一步探测非晶氢化硅_xtin_1-x，氢化硅_xnickel_1-x和锗_xgold_1的X射线吸收精细结构（EXAFS）衍生的纳米级结构，已进行了一系列小角度x射线散射（SAXS）实验。 -X。材料作为金属含量的函数。 SAXS结果揭示了这些反应性射频溅射非晶薄膜中簇形成的信息。在EXAFS数据的上下文中考虑了数据，并为模型提供了支持，在模型中，异质性的程度和性质主要取决于金属种类，金属含量的高低会引起其他影响。特别地，结果支持非晶半导体_x过渡金属_1-x中的金属：非金属过渡的渗滤模型。合金，导电的体积元素包括在非晶四面体主体网络内富含金属或金属化合物的区域。

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