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机译:射频溅射二氧化钛薄膜的表征及工艺参数
Department of Mechatronic Technology, National Taiwan Normal University, No. 162, Sec. 1, He-ping E. Rd., Da-an District, Taipei City 10610, Taiwan, ROC;
Department of Industrial Education, National Taiwan Normal University, No. 162, Sec. 1, He-ping E. Rd., Da-an District, Taipei City 10610, Taiwan, ROC;
Display Technology Center, Industrial Technology Research Institute, No. 195, Sec. 4, Chung Hsing Rd., Chutung, Hsinchu 31040, Taiwan, ROC;
Oxidation; Photocatalytic performance; Thin films; Titanium dioxide;
机译:工艺条件对直流磁控溅射沉积二氧化钛超薄膜理化特性的影响
机译:热退火对直流磁控溅射二氧化钛薄膜组成和结构参数的影响
机译:脉冲闭合场不平衡磁控溅射碳化钛薄膜的工艺参数研究
机译:反应性RF溅射法制备二氧化钛薄膜光电化学性能
机译:研究工艺参数变化对离子束溅射Sc2O3和HfO2薄膜的材料性能和激光损伤性能的影响。
机译:二功能直流溅射含银二氧化钛薄膜
机译:RF磁控溅射制备的纳米二氧化钛薄膜的光电化学特性
机译:用于HmC(混合微电路)应用的氮化钽,钛和钯薄膜沉积的DC磁控溅射系统的表征。