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「SPM」

机译:「SPM」

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摘要

ナノテクノロジー分野において近年目覚ましい進歩を遂rnげている走査型ブロープ顕微鏡(SPM:Scanning ProbernMicroscope)は、1982年にBinnigとRohrerによって発明rnされた走査型トンネル顕微鏡(STM:Scanning TunnelingrnMicroscope)に端を発している。その後開発された原子間rn力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)は、STMとrnは異なり、試料の導電性を必要としないため、様々な材料rnに適用できる利点を持っており、今日までにSPMの最もrn代表的な手法として確立された。ここでは、SPMの概念、rnAFMの特徴、分析事例など、基礎的な内容について紹介rnする。
机译:扫描探针显微镜(SPM)近年来在纳米技术领域取得了显着进步,它起源于Binnig和Rohrer于1982年发明的扫描隧道显微镜(STM:Scanning Tunnelingrn Microscope)。 ing。与STM和rn不同,此后开发的原子力显微镜(AFM)不需要样品的导电性,因此具有适用于各种材料的优点。建立了最有代表性的SPM方法。在这里,我们将介绍SPM的概念,rnAFM的特征以及分析示例等基本内容。

著录项

  • 来源
    《繊維学会誌》 |2009年第7期|p246-p248|共3页
  • 作者

    村司 雄一;

  • 作者单位

    (株)東レリサーチセンター 表面解析研究部 表面解析第1研究室 京都大学大学院工学研究科 〒520-8567 滋賀県大津市園山3-3-7;

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