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首页> 外文期刊>Journal of the American Society for Information Science and Technology >A New Approach for Measuring the Value of Patents Based on Structural Indicators for Ego Patent Citation Networks
【24h】

A New Approach for Measuring the Value of Patents Based on Structural Indicators for Ego Patent Citation Networks

机译：基于自我专利引用网络结构指标的专利价值衡量新方法

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Technology sectors differ in terms of technological complexity. When studying technology and innovation through patent analysis it is well known that similar amounts of technological knowledge can produce different numbers of patented innovation as output. A new multilayered approach to measure the technological value of patents based on ego patent citation networks (PCNs) is developed in this study. The results show that the structural indicators for the ego PCN developed in this contribution can characterize groups of patents and, hence, in an indirect way, the health of companies.
机译：技术部门在技术复杂性方面有所不同。通过专利分析研究技术和创新时，众所周知，类似数量的技术知识可以产生不同数量的专利创新作为产出。在这项研究中，开发了一种基于自我专利引用网络（PCN）的新的多层方法来衡量专利的技术价值。结果表明，在此贡献中开发的自我PCN的结构指标可以表征专利组的特征，因此可以间接地表征公司的健康状况。

著录项

  • 来源
  • 作者

    Xiaojun Hu; Ronald Rousseau; Jin Chen;

  • 作者单位

    Medical Information Centre, Zhejiang University School of Medicine, Hangzhou, 310058, China;

    KHBO (Association K.U.Leuven), Faculty of Engineering Technology, Zeedijk 101, 8400 Oostende, Belgium Universiteit Antwerpen (UA), IBW, Stadscampus, Venusstraat 35, 2000 Antwerpen, Belgium K.U.Leuven, Dept. Mathematics, Celestijnenlaan 200B, 3000 Leuven, Belgium;

    College of Public Administration, Zhejiang University, Hangzhou, 310027, China;

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