日本電子　質量分析装置の歴史

田村　淳

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日本電子　質量分析装置の歴史

机译：JEOL质谱仪的历史

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日本電子では，1963年に，スパークイオン源ビマッタウホ-ヘルツォーク配置の二重収束質量分析器を組み合わせた，無機分析用高分解能質量分析装置JMS-01を発売して以降，一貫して高性能·高分解能質量分析装置を開発してまいりました．本稿では，第64回質量分析総合討論会にあたって，歴史編纂準備委員会からの要請で作成したポスターの内容に基づいて，弊社の質量分析装置の歴史をご紹介いたします．

机译：1963年，JEOL推出了用于无机分析的JMS-01高分辨率质谱仪，该质谱仪将双聚焦质谱仪与火花离子源，Bimatauho-Herzog装置相结合，并一直获得高性能和高性能。我们已经开发了分辨率质谱仪。在本文中，我们将根据第64届质谱大会上的历史编辑筹备委员会的要求，根据创建的海报内容介绍质谱仪的历史。

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来源
《質量分析》 |2017年第1期|34-38|共5页
作者
田村　淳;
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作者单位

日本電子株式会社;

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