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首页> 外文期刊>Revue de Metallurgie >Structures de couches d'oxydation et spectroscopie IRFT en réflexion
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Structures de couches d'oxydation et spectroscopie IRFT en réflexion

机译：反射中的氧化层结构和IRFT光谱

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摘要

It is shown how infrared spectroscopy can be used in reflection during the study of oxidation products. It alleviates the weaknesses of X-ray diffraction during the analytical study of products in amorphous form. It makes it possible to reach the thickness of the layers without destroying them and with no special preparation. The organization of oxidation products can be obtained by comparison of experimental spectra with spectra calculated on the basis of the structures of the modelled layers. Examples relating to the thermal oxidation of various grades such as X8Cr17, X8CrSi17, X8CrAITi17 and Ni-Cr80/20 are treated in this article.%On montre comment la spectroscopie infrarouge peut être utilisée en réflexion lors de l'étude de produits d'oxydation. Elle pallie les faiblesses de la diffraction des rayons X lors de l'étude analytique de produits sous forme amorphe. Elle permet d'atteindre l'épaisseur des couches sans les détruire et sans préparation particulière. L'organisation des produits d'oxydation peut être obtenue par comparaison des spectres expérimentaux avec des spectres calculés sur la base de structures de couches modélisées. Des exemples relatifs à l'oxydation thermique de différentes nuances telles que X8Cr17, X8CrSi17, X8CrAlTi17 et Ni-Cr80/20 sont traités au cours de cet article.
机译：它显示了如何在研究氧化产物的过程中将红外光谱法用于反射。它减轻了无定形产品分析研究过程中X射线衍射的缺点。这使得可以达到层的厚度而不会破坏它们并且不需要特殊的准备。氧化产物的组织可以通过将实验光谱与根据建模层的结构计算出的光谱进行比较来获得。本文处理了与各种等级的热氧化有关的示例，例如X8Cr17，X8CrSi17，X8CrAITi17和Ni-Cr80 /20。％我们展示了在研究氧化产物时如何将红外光谱用于反射。它克服了无定形产品分析研究过程中X射线衍射的缺点。它允许在不破坏层且无需特殊准备的情况下达到层的厚度。可以通过将实验光谱与基于建模层结构计算的光谱进行比较来获得氧化产物的组织。本文涵盖了与不同等级的热氧化有关的示例，例如X8Cr17，X8CrSi17，X8CrAlTi17和Ni-Cr80 / 20。

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